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行業(yè)動態(tài)
真空檢漏,標準及有關(guān)術(shù)語
作者: 時間:2024-10-29
檢漏及有關(guān)術(shù)語
1漏孔
1.1漏孔leaks:在真空技術(shù)中,在壓力或濃度差的作用下,使氣體從壁的一側(cè)通到另一側(cè)的孔洞、孔隙、滲透元件或封閉器壁上的其它結(jié)構(gòu)。
1.2通道漏孔channel leak:可以把它理想地當做長毛細管的由一個或多個不連續(xù)通道組成的一種漏孔。
1.3 薄膜漏孔membrane leak:氣體通過滲透穿過薄膜的一種漏孔。
1.4分子漏孔molecular leak:漏孔的質(zhì)量流率正比于流動氣體分子質(zhì)量平方根的倒數(shù)的一種漏孔。
1.5粘滯漏孔vixcous leak:漏孔的質(zhì)量流率正比于流動氣體粘度的倒數(shù)的一種漏孔。
1.6校準漏孔calibrated leak:在規(guī)定條件下,對于一種規(guī)定氣體提供已知質(zhì)量流率的一種漏孔。
1.7標準漏孔reference leak :在規(guī)定條件下(入口壓力為100kPa±5%,溫度為23±7℃),漏率是已知的一種校準用的漏孔。
1.8虛漏virtual leak:在系統(tǒng)內(nèi),由于氣體或蒸汽的放出引起的壓力增加。
1.9漏率leak rate:在規(guī)定條件下,一種特定氣體通過漏孔的流量。
1.10標準空氣漏率standard air leak rate:在規(guī)定的標準狀態(tài)下,露點低于-25℃的空氣通過一個漏孔的流量。
1.11等值標準空氣漏率equivalent standard air leak rate:對于低于10-7到10-8Pa?m3?s-1標準空氣漏率的分子漏孔,氦(分子量4)流過這樣的漏孔比空氣(分子量290)更快,即氦流率對應(yīng)于較小的空氣漏率,在規(guī)定條件下,等值標準空氣漏率為√4/29=0.37氦漏率。
1.12探索(示漏)氣體;用來對真空系統(tǒng)進行檢漏的氣體。
2本底
2.1本底background:一般地在沒有注入探索氣體時,檢漏儀給出的總的指示。
2.2探索氣體本底search gas background :由于從檢漏儀壁或檢漏系統(tǒng)放出探索氣體所造成的本底。
2.3漂移drift:本底比較緩慢的變化。重要參量是規(guī)定周期內(nèi)測得的最大漂移。
2.4噪聲noise:本底比較迅速的變化。重要參量是規(guī)定周期內(nèi)測得的噪聲。
3檢漏儀
3.1檢漏儀leak detector:用來檢測真空系統(tǒng)或元件漏孔的位置或漏率的儀器。
3.2高頻火花檢漏儀H.F. spark leak detector:在玻璃系統(tǒng)上,用高頻放電線圈所產(chǎn)生的電火花,能集中于漏孔處的現(xiàn)象來確定漏孔位置的檢漏儀(通常用它對玻璃系統(tǒng)進行檢漏)。
3.3鹵素檢漏儀halide leak detector:利用鹵族元素探索氣體存在時,使赤熱鉑電極發(fā)射正離子大大增加的原理來制做的檢漏儀。
3.4氦質(zhì)譜檢漏儀helium mass spectrometer leak detector:利用磁偏轉(zhuǎn)原理制成的對于漏氣體氦反應(yīng)靈敏,專門用來檢漏的質(zhì)譜儀。
3.5檢漏儀的最小可檢漏率minimum detectable rate of leak detector:當存在本底噪聲時,將儀器調(diào)整到最佳情況下,純探索氣體通過漏孔時,檢漏儀所能檢出的最小漏率。
4檢漏
4.1氣泡檢漏leak detection by bubbles:將空氣壓入被檢容器,然后將其浸入水中或者對其可疑表面涂上肥皂液,觀察氣泡確定漏孔位置。
4.2氨檢漏leak detection by ammonia:將氨壓入被檢容器,然后通過觀察覆在可疑表面上試紙或試布顏色的改變來確定漏孔位置。
4.3升壓檢漏leak detection of rise pressure:被抽空容器與真空泵隔離后,測定隨時間的增加而升高的壓力值,來確定漏氣率。
4.4放射性同位素檢漏radioactive isotope leak detection:在被檢容器或零件內(nèi),裝入適當半衰期的放射性同位素,利用測定從漏孔穿出的放射性同位素的放射能來確定漏孔位置。
4.5熒光檢漏fluorescence leak detection :將被檢零件浸入熒光粉的有機溶液(三氯乙烯或四氯化碳)中,漏孔處將留有熒光粉,用紫外線照射熒光粉發(fā)光來確定漏孔位置。
檢漏及有關(guān)術(shù)語
1漏孔
1.1漏孔leaks:在真空技術(shù)中,在壓力或濃度差的作用下,使氣體從壁的一側(cè)通到另一側(cè)的孔洞、孔隙、滲透元件或封閉器壁上的其它結(jié)構(gòu)。
1.2通道漏孔channel leak:可以把它理想地當做長毛細管的由一個或多個不連續(xù)通道組成的一種漏孔。
1.3 薄膜漏孔membrane leak:氣體通過滲透穿過薄膜的一種漏孔。
1.4分子漏孔molecular leak:漏孔的質(zhì)量流率正比于流動氣體分子質(zhì)量平方根的倒數(shù)的一種漏孔。
1.5粘滯漏孔vixcous leak:漏孔的質(zhì)量流率正比于流動氣體粘度的倒數(shù)的一種漏孔。
1.6校準漏孔calibrated leak:在規(guī)定條件下,對于一種規(guī)定氣體提供已知質(zhì)量流率的一種漏孔。
1.7標準漏孔reference leak :在規(guī)定條件下(入口壓力為100kPa±5%,溫度為23±7℃),漏率是已知的一種校準用的漏孔。
1.8虛漏virtual leak:在系統(tǒng)內(nèi),由于氣體或蒸汽的放出引起的壓力增加。
1.9漏率leak rate:在規(guī)定條件下,一種特定氣體通過漏孔的流量。
1.10標準空氣漏率standard air leak rate:在規(guī)定的標準狀態(tài)下,露點低于-25℃的空氣通過一個漏孔的流量。
1.11等值標準空氣漏率equivalent standard air leak rate:對于低于10-7到10-8Pa?m3?s-1標準空氣漏率的分子漏孔,氦(分子量4)流過這樣的漏孔比空氣(分子量290)更快,即氦流率對應(yīng)于較小的空氣漏率,在規(guī)定條件下,等值標準空氣漏率為√4/29=0.37氦漏率。
1.12探索(示漏)氣體;用來對真空系統(tǒng)進行檢漏的氣體。
2本底
2.1本底background:一般地在沒有注入探索氣體時,檢漏儀給出的總的指示。
2.2探索氣體本底search gas background :由于從檢漏儀壁或檢漏系統(tǒng)放出探索氣體所造成的本底。
2.3漂移drift:本底比較緩慢的變化。重要參量是規(guī)定周期內(nèi)測得的最大漂移。
2.4噪聲noise:本底比較迅速的變化。重要參量是規(guī)定周期內(nèi)測得的噪聲。
3檢漏儀
3.1檢漏儀leak detector:用來檢測真空系統(tǒng)或元件漏孔的位置或漏率的儀器。
3.2高頻火花檢漏儀H.F. spark leak detector:在玻璃系統(tǒng)上,用高頻放電線圈所產(chǎn)生的電火花,能集中于漏孔處的現(xiàn)象來確定漏孔位置的檢漏儀(通常用它對玻璃系統(tǒng)進行檢漏)。
3.3鹵素檢漏儀halide leak detector:利用鹵族元素探索氣體存在時,使赤熱鉑電極發(fā)射正離子大大增加的原理來制做的檢漏儀。
3.4氦質(zhì)譜檢漏儀helium mass spectrometer leak detector:利用磁偏轉(zhuǎn)原理制成的對于漏氣體氦反應(yīng)靈敏,專門用來檢漏的質(zhì)譜儀。
3.5檢漏儀的最小可檢漏率minimum detectable rate of leak detector:當存在本底噪聲時,將儀器調(diào)整到最佳情況下,純探索氣體通過漏孔時,檢漏儀所能檢出的最小漏率。
4檢漏
4.1氣泡檢漏leak detection by bubbles:將空氣壓入被檢容器,然后將其浸入水中或者對其可疑表面涂上肥皂液,觀察氣泡確定漏孔位置。
4.2氨檢漏leak detection by ammonia:將氨壓入被檢容器,然后通過觀察覆在可疑表面上試紙或試布顏色的改變來確定漏孔位置。
4.3升壓檢漏leak detection of rise pressure:被抽空容器與真空泵隔離后,測定隨時間的增加而升高的壓力值,來確定漏氣率。
4.4放射性同位素檢漏radioactive isotope leak detection:在被檢容器或零件內(nèi),裝入適當半衰期的放射性同位素,利用測定從漏孔穿出的放射性同位素的放射能來確定漏孔位置。
4.5熒光檢漏fluorescence leak detection :將被檢零件浸入熒光粉的有機溶液(三氯乙烯或四氯化碳)中,漏孔處將留有熒光粉,用紫外線照射熒光粉發(fā)光來確定漏孔位置。